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X射線鍍層膜厚儀

簡要描述:

X射線鍍層膜厚儀可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析,運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低??舍槍蛻魝€性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

更新時間:2023-04-24

品牌其他品牌行業專用類型電子產品
重復性5%能量分辨率159或125eV
分析含量范圍0.1%-99.9%元素分析范圍13(Al)-92(U)
價格區間10萬-30萬儀器種類臺式/落地式
應用領域環保,化工,電子測量時間1-120秒
可測層數多鍍層1-5層平臺移動范圍200mm*200mm*5mm
  X射線鍍層膜厚儀
 
  產品類型:能量色散 X 熒光光譜分析設備
 
  產品名稱:X射線鍍層膜厚儀
 
  型 號:iEDX-150WT
 
  生 產 商:韓國 ISP 公司
 
  特點:該型儀器采用開槽式大平臺設計,適合測試扁平狀大面積樣品,適合線路板及連接器行業的鍍層厚度管控。
 
        (一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產品優勢
 
  1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
 
  2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)
 
  3. 激光定位和自動多點測量功能。
 
  4. 可檢測固體、粉末狀態材料。
 
  5. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
 
  6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
 
  7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
 
  8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
 
  9. 軟件升級。
 
  10. 無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。
 
  11. 使用安心無憂,售后服務響應時間 24H 以內,提供*保姆式服務。
 
  (二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
 
  1. X 射線管:高穩定性 X 光光管,微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
 
  鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
 
  50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
 
  2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
 
  能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
 
  3. 濾光片/可選
 
  初級濾光片:Al濾光片,自動切換
 
  7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
 
  (三)X射線鍍層測厚儀測量原理
 
 

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