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X射線測厚儀

簡要描述:

產品類型:能量色散X熒光光譜分析設備
產品名稱:X射線測厚儀
型 號:iEDX-150μWT
生 產 商:韓國ISP公司
亞太地區戰略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司

更新時間:2023-04-24

品牌其他品牌行業專用類型通用
重復性3%能量分辨率125eV
分析含量范圍0.1%-99.9%元素分析范圍13(Al)-92(U)
價格區間50萬-100萬儀器種類臺式/落地式
應用領域化工,電子

(一)iEDX-150μWT X射線測厚儀產品優勢

1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高(見以下產品特征詳述)。

2. 多導毛細管配置,光斑尺寸50um

3. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達250*250mm。

4. 激光定位。

  • 可檢測軟硬板電鍍層厚度。

  • 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。

  • 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。

  • 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。

  • 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

  • 軟件*升級。

  • 無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。

  • 使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供*保姆式服務。

  • 可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。

(二)iEDX-150μWT X射線測厚儀產品特征

  • 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

  • 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)。

  • Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行精確的鍍層厚度分析。

  • MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度分析

多鍍層厚度同時測量

4.1 單性金屬鍍層厚度測量。

4.2 合金鍍層厚度測量。

4.3 雙鍍層厚度測量。

4.4 雙鍍層(其中一層是合金)厚度測量。

4.5 三鍍層厚度測量。

4.6 測量點大?。?0um。


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